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            封裝溫度沖擊試驗

            2025-06-05 10:00:00

            封裝溫度沖擊試驗


            封裝溫度沖擊試驗是評估材料、元器件和成品在劇烈溫度變化下適應性與壽命的關(guān)鍵測試,以下從試驗原理、目的、方法、設備參數(shù)、應用場景及注意事項等方面展開介紹:

            一、試驗原理

            物體在高溫下膨脹,低溫下收縮,快速溫度變化會使產(chǎn)品內(nèi)部產(chǎn)生應力集中,引發(fā)開裂、破裂等現(xiàn)象。溫度沖擊試驗通過模擬這種極端環(huán)境,加速蠕變和疲勞損傷過程,揭示產(chǎn)品在極端溫度變化下的失效模式。

            二、試驗目的

            1.發(fā)現(xiàn)缺陷暴露元器件潛在的材料缺陷和制造質(zhì)量缺陷,消除早期失效。

            2.驗證適應性:評估產(chǎn)品在極端溫度變化環(huán)境下的環(huán)境適應性能力。

            3.可靠性篩選:作為環(huán)境應力篩選手段,剔除因元器件早期失效導致的產(chǎn)品故障。

            4.提供依據(jù):為產(chǎn)品的驗收與定型決策提供依據(jù)。

            三、試驗方法

            1.快速溫度變化通過空氣或液體介質(zhì)實現(xiàn)溫度快速轉(zhuǎn)換,例如在10秒內(nèi)完成從低溫到高溫的轉(zhuǎn)變。

            2.保持時間:根據(jù)受試產(chǎn)品的特點(如結(jié)構(gòu)、體積、重量)決定保持時間,確保產(chǎn)品內(nèi)部充分冷透或熱透。

            3.循環(huán)次數(shù):根據(jù)測試需求設定循環(huán)次數(shù),重復進行高低溫沖擊,評估產(chǎn)品的長期熱沖擊耐久性。

            四、試驗設備參數(shù)

            1.溫度范圍:

            高溫區(qū):+50℃~+220℃

            低溫區(qū):-80℃~-10℃

            沖擊溫度范圍:-70℃~+150℃

            2.溫度轉(zhuǎn)換時間:小于10秒

            3.溫度恢復時間:≤5分鐘(保持測試精度)

            4.樣品承重能力:可定制樣品托盤與定位裝置,支持多電芯并行測試

            5.控制系統(tǒng):PLC+7寸觸摸屏+USB接口,支持程序設定與數(shù)據(jù)導出

            6.安全系統(tǒng):超溫報警、自動斷電、門禁聯(lián)鎖、電芯信號聯(lián)動等保護功能

            五、應用場景

            1.電子元器件:評估芯片、電容、電阻等在溫度沖擊下的性能。

            2.封裝材料:檢測封裝膠、焊料、塑料等材料在極端溫度下的可靠性。

            3.電池領(lǐng)域:驗證鋰硫電芯在極端溫變條件下的性能與結(jié)構(gòu)可靠性,揭示電極材料、封裝界面在熱應力下的變化

            4.航空航天:模擬航天器在發(fā)射、軌道運行和再入大氣層過程中的溫度變化。

            5.汽車電子:評估汽車電子元件在極端氣候條件下的可靠性。

            六、注意事項

            1.保持時間:根據(jù)產(chǎn)品特點決定保持時間,確保產(chǎn)品內(nèi)部充分冷透或熱透。

            2.轉(zhuǎn)箱時間:若使用高溫箱和低溫箱配合進行檢驗,轉(zhuǎn)箱時間應盡量短(一般規(guī)定在3~5分鐘內(nèi)完成)。

            3.溫度范圍:根據(jù)受試產(chǎn)品的實際運用環(huán)境或設計指標決定溫度范圍。

            4.混淆避免:溫度沖擊試驗與溫度循環(huán)試驗的檢驗內(nèi)容不同,不能混淆使用。溫度沖擊試驗模擬極端惡劣的溫度急劇變化環(huán)境,而溫度循環(huán)試驗模擬正常溫度變化下的產(chǎn)品劣化問題。

             

            需了解更多溫度沖擊試驗箱,請聯(lián)系韋斯4008-541-718。

             

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